| dbo:abstract
|
- مسح المجهر التحقيقي يعد المجهر التحقيقي SPM أحد أنواع المجاهر الذي يشكل صور الاسطح باستخدام اداة ماديه تقوم بفحص العينة. ويتم الحصول على صوره سطحيه بتحريك المسبارميكانيكيا بمسحه نقطيه للعينه سطرا بسطروتسجيل تفاعل المسبار سطحيا كوظيفة للموقف. اكتشف المجهر التحقيقي SPM عندما اخترع مجهر المسح النفقي (المجهر الأنبوبي الماسح) في عام 1981.ان العديد من المجاهر التحقيقيه يمكن ان تصور عدة تفاعلات في وقت واحد. يطلق على طريقة التفاعلات التي تحدث عند الحصول على صوره بالصيغة. ان الحل يختلف من تقنية إلى أخرى ولكن بعض تقنيات المسابيرالتحقيقيه تحقق حلول عجيبه بدلا من الذرية انهم مدينون بشكل كبير إلى قدرة هذه المحركات لتنفيذ الاقتراحات الكهروضغطية بتفصيل ودقه على المستوى الذري أو أفضل على القيادة الالكترونية. ومن الممكن وعل ى نحو صحيح استخدام هذه المجموعة من التقنيات (التقنيات الكهروضغطيه. القاسم المشترك الآخرهو البيانات التي عادة يتم الحصول عليها على شكل شبكة ثنائية الأبعاد من نقاط البيانات، تظهر في لون خاطى كصورة كمبيوتر. (ar)
- Rastersondenmikroskopie (englisch scanning probe microscopy, SPM) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei welchen das Bild nicht mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung (Linsen) erzeugt wird wie beim Lichtmikroskop (LM) oder dem Rasterelektronenmikroskop (REM), sondern über die Wechselwirkung einer sogenannten Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt. (de)
- Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981. Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm). (es)
- La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement. La microscopie en champ proche est donc devenue en quelques décennies un outil indispensable pour la recherche scientifique, notamment dans le développement des nanotechnologies et l'industrie des semi-conducteurs. (fr)
- Craobh den is ea micreascópacht tóireadóir scanta. Tá raon micreascóp éagsúil ann anois atá bunaithe ar theicníocht ina ndéantar dromchla samplach a iniúchadh le barr tóireadóra a scantar i leith an dromchla sin. Sa mhicreascóp tollánach scanta (STM) is iad na leictreoin thollánacha istigh sa dromchla seoltach a dhéanann an íomhá. I micreascóp fórsa adamhaigh (ATM) is é an fórsa ar bharr an tóireadóir scanta ag gach pointe de dhromchla seoltach nó neamhsheoltach a íomháítear. Déantar airíonna dromchlacha maighnéadacha is leictreacha a thréithriú is a íomháú ach cinn brata chuí a úsáid sa scanadh. Mar shampla, i micreascópacht poitéinsil leictrigh scanta (SEPM) úsáidtear tóireadóir brata le platanam chun an dromchla is a bhfuil air a mhapáil. I micreascóp optúil neasréimse scanta, faightear íomhánna optúla le taifeach 10 nanaiméadar nó mar sin ach úsáid a bhaint as solas ó shnáithín an-mhín chun an dromchla a scanadh, rud a sheachnaíonn teorainn an díraonta a tharlaíonn i ngnáthmhicreascóip de bhrí go bhfágann an léas solais an snáithín an-ghar don dromchla samplach. Úsáidtear micreascóip scanta in an-chuid feidhmeanna: seiceáil slisní leathsheoltóra is dioscaí optúla le linn a ndéanta, breathnú ar chealla, próitéiní, baictéir is víris in situ. Cheap Binnig, Quate is Gerber an teicníocht micreascópachta seo le tóireadóir scanta i 1986. (ga)
- Scanning probe microscopy (SPM) is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the specimen. SPM was founded in 1981, with the invention of the scanning tunneling microscope, an instrument for imaging surfaces at the atomic level. The first successful scanning tunneling microscope experiment was done by Gerd Binnig and Heinrich Rohrer. The key to their success was using a feedback loop to regulate gap distance between the sample and the probe. Many scanning probe microscopes can image several interactions simultaneously. The manner of using these interactions to obtain an image is generally called a mode. The resolution varies somewhat from technique to technique, but some probe techniques reach a rather impressive atomic resolution. This is due largely because piezoelectric actuators can execute motions with a precision and accuracy at the atomic level or better on electronic command. This family of techniques can be called "piezoelectric techniques". The other common denominator is that the data are typically obtained as a two-dimensional grid of data points, visualized in false color as a computer image. (en)
- La microscopia a scansione di sonda (SPM, Scanning Probe Microscopy) è un ramo della microscopia che forma le immagini di superfici usando una sonda fisica che esegue la scansione del campione. Un'immagine della superficie è ottenuta meccanicamente spostando la sonda in un (raster scan) del campione, riga per riga e registrando l'interazione sonda-superficie in funzione della posizione. La SPM è stata istituita nel 1981 con l'invenzione del microscopio a scansione a effetto tunnel. Molti microscopi a scansione di sonda sono in grado di raffigurare molte interazioni simultaneamente. La maniera di utilizzare queste interazioni per ottenere un'immagine è generalmente chiamata "modo". La risoluzione varia alquanto da tecnica a tecnica, ma alcune tecniche di sonda raggiungono una risoluzione atomica piuttosto impressionante. Ciò è dovuto in gran parte alla capacità degli attuatori piezoelettrici di eseguire movimenti con una precisione e accuratezza a livello atomico o meglio in base al comando elettronico. Si potrebbe giustamente chiamare questa tipo di tecniche "piezoelettriche". L'altro denominatore comune è che i dati sono in genere ottenuti come una griglia bidimensionale di punti dati (data points), visualizzati in colori falsi come immagine del computer. (it)
- 走査型プローブ顕微鏡 (そうさがたプローブけんびきょう、Scanning Probe Microscope; SPM) は、プローブを用いた顕微鏡観察手法の総称である。先端を尖らせた探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面状態を拡大観察する。実際の例としては、表面を観察する際、微少な電流(トンネル電流)を利用する走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力を利用する原子間力顕微鏡(AFM)をはじめ、数多くの種類がある。 (ja)
- Scanning probe microscopy (SPM) is een microscopietechniek, waar met een sonde (Engels: probe) het oppervlak van een substraat op atoomschaal wordt verkend en in gescand. Het is dan ook een veelgebruikte karakteriseringstechniek voor materiaaloppervlakten binnen het vakgebied der materiaalkunde en vastestoffysica. De techniek werd ontwikkeld na de uitvinding van Scanning tunneling microscopy in 1981. SPM heeft een aantal grote voordelen ten opzichte van elektronenmicroscopen:
* Het preparaat hoeft niet elektrisch geleidend te zijn;
* er is geen hoogvacuüm nodig;
* preparaten kunnen zelfs "onder" een vloeistof worden onderzocht;
* de kostprijs is aanzienlijk lager dan die van een elektronenmicroscoop. Met deze techniek kunnen verschillende materiaaleigenschappen in beeld worden gebracht, afhankelijk van het soort sonde dat wordt gebruikt. Enkele bekende SPM-technieken zijn:
* Atomic force microscopy (AFM), waarbij de vanderwaalskrachten worden geregistreerd;
* Magnetic force microscopy (MFM), waarbij de magnetische veldkrachten worden geregistreerd;
* Scanning tunneling microscopy (STM), waarbij de stroom van tunnelende elektronen wordt geregistreerd;
* (EFM), waarbij de elektrostatische veldkrachten worden geregistreerd;
* (LFM);
* (SCM), waarbij de elektrostatische capaciteit wordt geregistreerd;
* (SICM), waarbij de een electrode als sonde wordt gebruikt (nl)
- SPM (ang. Scanning Probe Microscope; mikroskop ze skanującą sondą) – ogólna nazwa całej rodziny mikroskopów, których zasada działania polega na: 1.
* skanowaniu, czyli przemiataniu pola widzenia mikroskopu liniami, każda linia jest następnie mierzona punkt po punkcie – obraz tworzony na podstawie tych pojedynczych punktów pomiarowych 2.
* wybór punktu pomiarowego następuje poprzez poruszanie nad próbką sondy (próbnika) – zasadniczy pomiar określonej właściwości badanej próbki jest dokonywany za pomocą tej sondy. Skanowanie z reguły realizowane jest za pomocą tzw. skanera lub skanerów piezoelektrycznych skonstruowanych najczęściej w ten sposób, że próbka może poruszać się względem głowicy mikroskopu z sondą (lub głowica względem próbki) w 3 wymiarach. Poruszanie poziome zapewnia wybór kolejnych linii obrazu (współrzędna y) oraz skanowanie linii (kolejne punkty – współrzędna x). Skaner pionowy – z reguły o większej rozdzielczości – zapewnia uzyskiwanie zmiany pionowego położenia sondy względem próbki (współrzędna z). (pl)
- Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM — scanning probe microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением.Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен (принципы этого класса приборов были заложены ранее другими исследователями) Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике в 1986 году, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной особенностью СЗМ является наличие:
* зонда,
* системы перемещения зонда относительно образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам,
* регистрирующей системы. Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образца. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат (Z). В качестве системы обратной связи чаще всего используется ПИД-регулятор. Основные типы сканирующих зондовых микроскопов:
* Сканирующий атомно-силовой микроскоп
* Сканирующий туннельный микроскоп
* Ближнепольный оптический микроскоп (ru)
- 掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopy，SPM）是所有機械式地用物理在樣本上掃描移動以探測樣本影像的顯微鏡的统称。其影像解析度主要取決於探針的大小〔通常在纳米的範圍〕。掃描隧道顯微鏡是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕，这是一种用于在原子水平表面成像的仪器。第一次成功的扫描隧道显微镜实验由Binnig和Rohrer完成。他们成功的关键是使用反馈回路来调节样品和探针之间的间隙距离。 许多扫描探针显微镜可以同时用几种相互作用来成像。使用这些相互作用来获得图像的方式通常被称为模式。 (zh)
- Скануючі зондові мікроскопи (СЗМ, англ. SPM — Scanning Probe Microscope — клас мікроскопів для отримання зображення поверхні та її локальних характеристик. Процес побудови зображення заснований на скануванні поверхні зондом. У загальному випадку дозволяє отримати тривимірне зображення поверхні (топографію) з високої якості. Скануючий зондовий мікроскоп в сучасному вигляді винайдений (принципи цього класу приладів були закладені раніше іншими дослідниками) Гердом Карлом Біннігом і Генріхом Рорером в 1981 році. За цей винахід були удостоєні Нобелівської премії з фізики в 1986 році, яка була розділена між ними і винахідником трансмісійного електронного мікроскопа Е. Руска. Відмінною особливістю СЗМ є наявність:
* зонда,
* системи переміщення зонда щодо зразка по 2-м (X-Y) або 3-м (X-Y-Z) координатам,
* реєструючої системи. Система реєстрації фіксує значення функції, що залежить від відстані зонд-зразка. Зазвичай реєстроване значення обробляється системою від'ємного зворотного зв'язку, яка керує положенням зразка або зонда по одній з координат (Z). В якості системи зворотного зв'язку найчастіше використовується ПІД-регулятор. (uk)
|
| dbo:wikiPageExternalLink
| |
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 27089 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| dcterms:subject
| |
| gold:hypernym
| |
| rdf:type
| |
| rdfs:comment
|
- Rastersondenmikroskopie (englisch scanning probe microscopy, SPM) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei welchen das Bild nicht mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung (Linsen) erzeugt wird wie beim Lichtmikroskop (LM) oder dem Rasterelektronenmikroskop (REM), sondern über die Wechselwirkung einer sogenannten Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt. (de)
- Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981. Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm). (es)
- 走査型プローブ顕微鏡 (そうさがたプローブけんびきょう、Scanning Probe Microscope; SPM) は、プローブを用いた顕微鏡観察手法の総称である。先端を尖らせた探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面状態を拡大観察する。実際の例としては、表面を観察する際、微少な電流(トンネル電流)を利用する走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力を利用する原子間力顕微鏡(AFM)をはじめ、数多くの種類がある。 (ja)
- 掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopy，SPM）是所有機械式地用物理在樣本上掃描移動以探測樣本影像的顯微鏡的统称。其影像解析度主要取決於探針的大小〔通常在纳米的範圍〕。掃描隧道顯微鏡是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕，这是一种用于在原子水平表面成像的仪器。第一次成功的扫描隧道显微镜实验由Binnig和Rohrer完成。他们成功的关键是使用反馈回路来调节样品和探针之间的间隙距离。 许多扫描探针显微镜可以同时用几种相互作用来成像。使用这些相互作用来获得图像的方式通常被称为模式。 (zh)
- مسح المجهر التحقيقي يعد المجهر التحقيقي SPM أحد أنواع المجاهر الذي يشكل صور الاسطح باستخدام اداة ماديه تقوم بفحص العينة. ويتم الحصول على صوره سطحيه بتحريك المسبارميكانيكيا بمسحه نقطيه للعينه سطرا بسطروتسجيل تفاعل المسبار سطحيا كوظيفة للموقف. اكتشف المجهر التحقيقي SPM عندما اخترع مجهر المسح النفقي (المجهر الأنبوبي الماسح) في عام 1981.ان العديد من المجاهر التحقيقيه يمكن ان تصور عدة تفاعلات في وقت واحد. يطلق على طريقة التفاعلات التي تحدث عند الحصول على صوره بالصيغة. ان الحل يختلف من تقنية إلى أخرى ولكن بعض تقنيات المسابيرالتحقيقيه تحقق حلول عجيبه بدلا من الذرية انهم مدينون بشكل كبير إلى قدرة هذه المحركات لتنفيذ الاقتراحات الكهروضغطية بتفصيل ودقه على المستوى الذري أو أفضل على القيادة الالكترونية. ومن الممكن وعل ى نحو صحيح استخدام هذه المجموعة من التقنيات (التقنيات الكهروضغطيه. القاسم المشترك ا (ar)
- Craobh den is ea micreascópacht tóireadóir scanta. Tá raon micreascóp éagsúil ann anois atá bunaithe ar theicníocht ina ndéantar dromchla samplach a iniúchadh le barr tóireadóra a scantar i leith an dromchla sin. Úsáidtear micreascóip scanta in an-chuid feidhmeanna: seiceáil slisní leathsheoltóra is dioscaí optúla le linn a ndéanta, breathnú ar chealla, próitéiní, baictéir is víris in situ. Cheap Binnig, Quate is Gerber an teicníocht micreascópachta seo le tóireadóir scanta i 1986. (ga)
- La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). (fr)
- Scanning probe microscopy (SPM) is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the specimen. SPM was founded in 1981, with the invention of the scanning tunneling microscope, an instrument for imaging surfaces at the atomic level. The first successful scanning tunneling microscope experiment was done by Gerd Binnig and Heinrich Rohrer. The key to their success was using a feedback loop to regulate gap distance between the sample and the probe. (en)
- La microscopia a scansione di sonda (SPM, Scanning Probe Microscopy) è un ramo della microscopia che forma le immagini di superfici usando una sonda fisica che esegue la scansione del campione. Un'immagine della superficie è ottenuta meccanicamente spostando la sonda in un (raster scan) del campione, riga per riga e registrando l'interazione sonda-superficie in funzione della posizione. La SPM è stata istituita nel 1981 con l'invenzione del microscopio a scansione a effetto tunnel. (it)
- Scanning probe microscopy (SPM) is een microscopietechniek, waar met een sonde (Engels: probe) het oppervlak van een substraat op atoomschaal wordt verkend en in gescand. Het is dan ook een veelgebruikte karakteriseringstechniek voor materiaaloppervlakten binnen het vakgebied der materiaalkunde en vastestoffysica. De techniek werd ontwikkeld na de uitvinding van Scanning tunneling microscopy in 1981. SPM heeft een aantal grote voordelen ten opzichte van elektronenmicroscopen: Enkele bekende SPM-technieken zijn: (nl)
- SPM (ang. Scanning Probe Microscope; mikroskop ze skanującą sondą) – ogólna nazwa całej rodziny mikroskopów, których zasada działania polega na: 1.
* skanowaniu, czyli przemiataniu pola widzenia mikroskopu liniami, każda linia jest następnie mierzona punkt po punkcie – obraz tworzony na podstawie tych pojedynczych punktów pomiarowych 2.
* wybór punktu pomiarowego następuje poprzez poruszanie nad próbką sondy (próbnika) – zasadniczy pomiar określonej właściwości badanej próbki jest dokonywany za pomocą tej sondy. (pl)
- Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM — scanning probe microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением.Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен (принципы этого класса приборов были заложены ранее другими исследователями) Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике в 1986 году, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной особенностью СЗМ является наличие: (ru)
- Скануючі зондові мікроскопи (СЗМ, англ. SPM — Scanning Probe Microscope — клас мікроскопів для отримання зображення поверхні та її локальних характеристик. Процес побудови зображення заснований на скануванні поверхні зондом. У загальному випадку дозволяє отримати тривимірне зображення поверхні (топографію) з високої якості. Скануючий зондовий мікроскоп в сучасному вигляді винайдений (принципи цього класу приладів були закладені раніше іншими дослідниками) Гердом Карлом Біннігом і Генріхом Рорером в 1981 році. За цей винахід були удостоєні Нобелівської премії з фізики в 1986 році, яка була розділена між ними і винахідником трансмісійного електронного мікроскопа Е. Руска. Відмінною особливістю СЗМ є наявність: (uk)
|
| rdfs:label
|
- Scanning probe microscopy (en)
- فحص مجهري بالمسبار الماسح (ar)
- Rastersondenmikroskopie (de)
- Microscopio de sonda de barrido (es)
- Micreascópacht tóireadóir scanta (ga)
- Microscopie à sonde locale (fr)
- Microscopia a scansione di sonda (it)
- 走査型プローブ顕微鏡 (ja)
- SPM (pl)
- Scanning probe microscopy (nl)
- Сканирующий зондовый микроскоп (ru)
- 掃描探針顯微鏡 (zh)
- Сканувальний зондовий мікроскоп (uk)
|
| owl:sameAs
| |
| skos:closeMatch
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:academicDiscipline
of | |
| is dbo:genre
of | |
| is dbo:knownFor
of | |
| is dbo:wikiPageDisambiguates
of | |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is dbp:field
of | |
| is dbp:fields
of | |
| is dbp:knownFor
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
