Caracterização
Caracterização
𝑛
(αℎ𝑣) = 𝐴(ℎ𝑣 − 𝐸𝑔) (3.2)
100
𝐴( % ) = 𝐼 (3.1)
1+1.265 𝐼𝑅
𝐴
Microscopia eletrônica de varredura (MEV)
A técnica de microscopia eletrônica de varredura é capaz de produzir imagens de
altíssima resolução da estrutura superficial dos materiais, levando a conclusões muito
importantes acerca de aspectos topográficos e morfológicos.